VIEW MicroLine 300自動化影像測量儀
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品牌
MicroDemo
產品編號
1797
產品型號
VIEW MicroLine 300自動化影像測量儀
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技術規格:

- 測量行程: 200 x 200 x 25mm (XYZ)

- 平臺運行: 交叉滾軸手動同軸定位和快速釋放

- 視場內的測量精度: 0.010μm (用100x物鏡)

- 特征尺寸: 視場內0.5μm - 400μm

- FOV測量重復性: <0.010μm on wafers (用100x物鏡)<0.005μm on photomasks (用100x物鏡)

- 照明: 石英鹵素燈, 反射光自動照明

- 低噪音CCD VGA格式攝像頭

- 圖像處理60幀每秒格:

- 測量行程: 200 x 200 x 25mm (XYZ)

- 平臺運行: 交叉滾軸手動同軸定位和快速釋放

- 視場內的測量精度: 0.010μm (用100x物鏡)

- 特征尺寸: 視場內0.5μm - 400μm

- FOV測量重復性: <0.010μm on wafers (用100x物鏡) <0.005μm on photomasks (用100x物鏡

- 照明: 石英鹵素燈, 反射光 自動照明

- 低噪音CCD VGA格式攝像頭

- 圖像處理60幀每秒

MicroLine 300的典型應用包括:

l 晶圓

l 光罩

l MEMS

l 微型組件

測量類型:

關鍵尺寸:

線寬 Linewidth

節距 Pitch

間隙 Spacing

Overlay

Multi-layer registration,Box in box,Circle,Edge roughness,Butting erro

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